MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計(jì)器用途
MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計(jì)器用途
MK-300成像光譜儀BUNKOUKEIKI分光計(jì)器用途
MK-300成像光譜儀
采用新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)的正式聚氯乙烯。
CCD檢測(cè)受光面全域空間分辨率優(yōu)異。使用支管光纖等進(jìn)行多點(diǎn)同時(shí)光譜測(cè)量，以及通過與顯微鏡連接進(jìn)行光譜測(cè)量等。
衍射光柵最多可以搭載3張，搭載了電氣控制器，可以用USB電纜連接PC，用附帶的專用軟件進(jìn)行波長驅(qū)動(dòng)和衍射光柵切換。
特點(diǎn)：
將散光減少到極限，大幅改善波長兩端產(chǎn)生的分辨率降低
最多可以安裝3個(gè)衍射光柵
多點(diǎn)同時(shí)光譜測(cè)量
觀測(cè)圖像的光譜測(cè)量
檢測(cè)器的切換類型也有陣容。
規(guī)格：
反線型方差 2.58nm/mm
光學(xué)系統(tǒng) 像差校正型特殊光學(xué)系統(tǒng)
亮度 F=4.4
波長分辨率 半幅0.2nm（3pixels以內(nèi)）
迷光 5×10-3以下
波長準(zhǔn)確度 ±0.2nm（3pixels以內(nèi)）
波長再現(xiàn)性 ±0.2nm（3pixels以內(nèi)）
衍射光柵切換再現(xiàn)性 ±0.2nm（3pixels以內(nèi)）
光學(xué)波長范圍 200～1000nm
波長移動(dòng)方式 正弦機(jī)構(gòu)、波長線性移動(dòng)
波長驅(qū)動(dòng)方式 步進(jìn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)（PC?專用軟件控制）
衍射光柵 時(shí)刻線有效50×50mm
衍射光柵切換方式 步進(jìn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)（最多可搭載3張）
入射狹縫 寬度：0.01～4mm（雙開對(duì)稱連續(xù)可變?讀取最小刻度0.01mm）
手動(dòng)快門（可選擇自動(dòng)快門）
軟件 衍射光柵切換·波長移動(dòng)（USB連接）
＊CCD檢測(cè)器受光尺寸26.6mm（1024×256pixels 26µm/pixels）的情況
EMDP-100光譜系統(tǒng)
這是一種通過Retroller色散棱鏡和E殼衍射光柵的交叉分散雙光譜配置，能夠以高分辨率同時(shí)測(cè)量廣波長范圍的系統(tǒng)。搭載ANDOR制ICCD檢測(cè)器，可以使用分光儀表專用軟件Blux進(jìn)行控制。
通過結(jié)合各種測(cè)量用光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)應(yīng)等離子體光譜、PL和LIBS等所有測(cè)量。
特點(diǎn):
一臺(tái)E殼光譜系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了波長范圍200～900nm的測(cè)量。
通過選擇Retroller色散棱鏡，可以從P1（200～270nm）、P2（270～410nm）、P3（410～900nm）3種測(cè)量波長范圍中選擇。
測(cè)量分辨率在整個(gè)區(qū)域8500（λ/△λ）達(dá)到以上。
在專用軟件Blux中，可以進(jìn)行從ICCD檢測(cè)器測(cè)量的數(shù)據(jù)讀取到光譜顯示的數(shù)據(jù)處理（波長、順序連接、等間隔校正等）。
規(guī)格:
光學(xué)布置 交叉色散雙光譜儀
測(cè)量波長范圍【3波長范圍】 200～900nm【200～270nm（P1）?270～410nm（P2）?410～900nm（P3）】
測(cè)量分辨率 8500以上（狹縫寬度50μｍ）
半光譜寬度 0.02～0.1nm（200～900nm）
焦距 波長色散用330mm階數(shù)分離用200mm
開口比 F=10
波長色散 埃殼衍射光柵
次方差 利特勒分散棱鏡
入射端口 帶XY調(diào)整功能的光纖支架
ICCD元件數(shù) W2048×H512 pixel（有效1800×512pixel)
ICCD元件尺寸 13.5×13.5μm
ICCD區(qū)域大小 W27.648mm×H6.912mm（有效W24.975mm×H6.912mm）
MK-300成像光譜儀
EMDP-100埃殼光譜系統(tǒng)
CLP-400透鏡光譜儀
CLP-50顯微鏡連接用成像光譜儀
CLP-105 UV紫外線成像光譜儀
MCC-135多波長同時(shí)測(cè)量相機(jī)
重氫光源30W
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Xseries氙燈光源（通常）
XERseries氙燈光源（反射器）
Nseries陶瓷加熱器光源（紅外光源）
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