WL15VWI-多測試系統(tǒng)SHIBASOKU芝測WL15VWI高耐壓泄漏測試
多測試系統(tǒng)SHIBASOKU芝測WL15VWI高耐壓泄漏測試
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WL15VWI
四個同時測定GBT, MOSFET, SBD, FRD, IPM, IPD, Chip
2000 V / 30 A
四個同時測量方法例
+ 2000 V±20毫安
±128 V±5 A
±60 V±30 A
±64 V±160毫安
zui大32個同時測量可能
高真空度而言,高溫低溫開始到業(yè)界zui高水平,5 kv高耐壓泄漏試驗。
次世代ー半導體材料的SiC /氮化鎵也對應
ONOSOKKI小野測器,SANWA三和電氣計器,ASAHIKEIKI旭計器株式會社,TOYOKEIKI東洋計器株式會社,PEACOCKOZAKI尾崎制作所,SANKIKEISO三基計裝,TOKYOKEIKI東京計器,ACCRETECH東京精密,EYELA東京理化器械,HIROSUGI株式會社廣杉計器,SAKAZUME株式會社坂詰制作所,SANWA三和電氣計器株式會社,YDIC山本電機工業(yè)株式會社,AICHITOKEI愛知時計電機,NISSIN日新電子工業(yè),ATAGOアタゴ,IWATSU巖通計測,HYODA兵田計器工業(yè),HORIBA堀場アドバンスドテクノ,KOBOTAクボタ計裝,TOYOKOKAGAKU東橫化學,RYUKI東京流機工業(yè),NAGANOKEIKI長野計器,MIGISHITA 右下精器制造,SK 新瀉精機,KORI 古里精機制作所,NEWCOSMOS新コスモス電機 ,NISHIHARA西原環(huán)境,HAMAMATSU浜松ホトニクス,HOKUYO北陽電機 SHINWASOKUTEI親和測定株式會社,ORION好利旺機械株式會社,SHIBASOKU芝測
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