HED型Wafer/ESD/TCP試驗(yàn)機(jī)阪和電子工業(yè) 本裝置能夠測(cè)量以往TLP無(wú)法覆蓋的高電壓、大電流特性，在獲取、分析高耐壓元件的動(dòng)作參數(shù)上發(fā)揮作用。
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模擬靜電CDM試驗(yàn)機(jī)HANWA阪和電子工業(yè) 是與日本、海外的規(guī)格對(duì)應(yīng)的可靠性高的裝置。（JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格對(duì)應(yīng)）通過(guò)更換放電電路的單元來(lái)支持國(guó)內(nèi)外的規(guī)格測(cè)試。可以測(cè)量設(shè)備各端子容量。測(cè)量數(shù)據(jù)可以作為文本文件保存。
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高性能靜電破壞試驗(yàn)裝置HANWA阪和電子工業(yè) 全自動(dòng)靜電破壞裝置的高功能版登場(chǎng) 可以進(jìn)行符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試（JEDEC、ESDA、AEC及JE的。短路使電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響小化。 此外，通過(guò)使用單一電路，可以保證被測(cè)試的各調(diào)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
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