ACCRETECH東京精密AP3000探測(cè)機(jī)
ACCRETECH東京精密AP3000探測(cè)機(jī)
ACCRETECH東京精密AP3000探測(cè)機(jī)
探測(cè)機(jī)AP3000,AP3000e,FP3000,UF2000,UF200R,FP2000,AltaProv
功率器件測(cè)量系統(tǒng)Fortia；探測(cè)機(jī)網(wǎng)絡(luò)VEGANET,LIGHTVEGA,GEM Network System,VEGA PLANET
探測(cè)機(jī)AP3000/AP3000e是一種新一代高性能探測(cè)機(jī)，可實(shí)現(xiàn)高精度、高吞吐量（索引移動(dòng)、晶圓處理、晶圓對(duì)準(zhǔn)）、低振動(dòng)和安靜。標(biāo)配防病毒和反惡意軟件。此外，它繼承了以前型號(hào)的功能和可操作性，保持了配方和地圖數(shù)據(jù)的兼容性，可以安全、安心、輕松地使用。
FP3000切割后附著在切割框架上的晶圓和封裝使用我們校正技術(shù)進(jìn)行高精度測(cè)量。它是真正的一體化多功能探測(cè)器，只需按一下按鈕即可傳輸和測(cè)試框架和晶圓。
UF2000特征：
改進(jìn)了高剛性、高速運(yùn)行技術(shù)，以提高精度和吞吐量。
多種選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)未定義的各種晶圓測(cè)試。
UF200R特征：
傳輸和測(cè)量5英寸至8英寸晶圓。采用與UF2000相同的MMI。
多種選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)未定義的各種晶圓測(cè)試。
UF190R特征：傳輸和測(cè)量4英寸至8英寸晶圓。采用與UF2000相同的MMI。
FP2000是一款多功能探針臺(tái)，只需按一下按鈕即可傳輸和測(cè)試框架和5至8英寸晶圓。切割后附在框架上的晶圓和封裝使用我們校正技術(shù)進(jìn)行高精度測(cè)量。
功率器件測(cè)量系統(tǒng)Fortia特征：
從DC測(cè)量（大電流、高耐壓）到L負(fù)載（雪崩）測(cè)量的無(wú)縫測(cè)量。ATi Unit（ACCRETEC TESEC接口單元）、DARUMA載物臺(tái)和壓力卡功能提供了高質(zhì)量和的測(cè)量環(huán)境。
共享操作，現(xiàn)在可以使用探頭進(jìn)行測(cè)試儀操作和測(cè)量結(jié)果顯示。
涵蓋從低溫到超高溫的廣泛測(cè)量溫度范圍
探頭選項(xiàng)，可以安裝多種選件。
可定制的測(cè)量環(huán)境，通過(guò)組合可選單元，可以構(gòu)建適合該設(shè)備的測(cè)量環(huán)境。
測(cè)量L負(fù)載時(shí)快速關(guān)斷，在設(shè)備損壞的情況下，測(cè)量路徑會(huì)在短時(shí)間內(nèi)被切斷。
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