銷(xiāo)售AsahiSpectra朝日分光、光學(xué)式膜厚計(jì)在測(cè)量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光,這時(shí)光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層 (wafer或glass)之間的界面反射。
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銷(xiāo)售AsahiSpectra朝日分光、光學(xué)式膜厚計(jì)
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光學(xué)式膜厚計(jì)OMD-1000
自動(dòng)濾光器 FC8-25A、FC32-25A
測(cè)量原理如下:在測(cè)量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光,這時(shí)光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層 (wafer或glass)之間的界面反射。這時(shí)薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。SpectraThick series就是利用這種干涉現(xiàn)象來(lái)測(cè)量薄膜厚度的儀器。
以前的機(jī)型的波長(zhǎng)選擇是過(guò)濾式,但是新產(chǎn)品在本公司加入有實(shí)績(jī)的分光器,可以選擇任意的波長(zhǎng)。膜厚變化的信號(hào)從電壓輸出到電腦對(duì)應(yīng)的數(shù)字輸出,控制機(jī)構(gòu)從手冊(cè)操作成為通過(guò)電腦的命令控制。另外,通過(guò)I / F直接與電腦直接連接膜厚計(jì),并沒(méi)有其他制造商的控制器等,是非常緊湊的系統(tǒng)。
特長(zhǎng)
本體構(gòu)成と配線(xiàn)