TPC( TOKYO PARTS CENTER)鏡頭工業(yè)測量熒光顯微鏡,偏光顯微鏡,倒立顯微鏡,手術(shù)顯微鏡,測定用顯微鏡,寶石鑒定用顯微鏡
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TPC( TOKYO PARTS CENTER)鏡頭工業(yè)測量
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面光源
用高密度LED陣列面提供高強度背光照明,能突出物體的外形輪廓特征,尤其適合作為顯微鏡的載物臺。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源,能調(diào)配出不同顏色,滿足不同被測物多色要求。應(yīng)用領(lǐng)域:機械零件尺寸的測量,電子元件、IC的外型檢測,膠片污點檢測,透明物體劃痕檢測等。
LED照明燈具
采用了檢查的夾角的高亮度LED。由于光的直進,不進入視線的金屬表面和樹脂等工作表面的打痕,使之浮起來。
容易轉(zhuǎn)動的類型。這個功能的重量是180克的超輕重量。
聚光照明、LED同軸點光源
大功率LED,體積小,發(fā)光強度高;光纖鹵素?zé)舻奶娲?,尤其適合作為鏡頭的同軸光源等;高效散熱裝置,大大提高光源的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域:適合遠(yuǎn)心鏡頭使用,用于芯片檢測,Mark點定位,晶片及液晶玻璃底基校正。
通過適當(dāng)?shù)墓庠凑彰髟O(shè)計,使圖像中的目標(biāo)信息與背景信息得到較好分離,可以大大降低圖像處理算法分割、識別的難度,同時提高系統(tǒng)的定位、測量精度,使系統(tǒng)的可靠性和綜合性能得到提高。反之,如果光源設(shè)計不當(dāng),會導(dǎo)致在圖像處理算法設(shè)計和成像系統(tǒng)設(shè)計中事倍功半。因此,光源及光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計的成敗是決定系統(tǒng)成敗的首要因素